Rabu, 29 Juni 2011
Analisa Instrumen XRF
07.36 | Diposting oleh
bambang |
Edit Entri
X-ray fluorescence (XRF) spektrometer adalah suatu alat x-ray digunakan untuk rutin, yang relatif non-destruktif analisis kimia batuan, mineral, sedimen dan cairan. Ia bekerja pada panjang gelombang-dispersif spektroskopi prinsip yang mirip dengan microprobe elektron. Namun, XRF umumnya tidak dapat membuat analisis di spot ukuran kecil khas pekerjaan EPMA (2-5 mikron), sehingga biasanya digunakan untuk analisis sebagian besar fraksi lebih besar dari bahan geologi. Biaya kemudahan dan rendah relatif persiapan sampel, dan stabilitas dan kemudahan penggunaan x-ray spektrometer membuat salah satu metode yang paling banyak digunakan untuk analisis unsur utama dan jejak di batuan, mineral, dan sedimen.
. Acuan Pustaka
Fitton, G., 1997, X-Ray fluorescence spectrometry, in Gill, R. (ed.), Modern Analytical Geochemistry: An Introduction to Quantitative Chemical Analysis for Earth, Environmental and Material Scientists: Addison Wesley Longman, UK.
Potts, PJ, 1987, A Handbook of Silicate Rock Analysis: Chapman and Hall.
Rollinson, H., 1993, Using Geochemical Data: Evaluation, Presentation, Interpretation: John Wiley, NY.
Prinsip Dasar X-Ray Fluoresensi (XRF)
Metode XRF tergantung pada prinsip-prinsip dasar yang umum untuk beberapa metode instrumen lain yang melibatkan interaksi antara berkas elektron dan sinar-x dengan sampel, termasuk: X-ray spektroskopi (misalnya, SEM - EDS ), difraksi sinar-X ( XRD ), dan panjang gelombang dispersif spektroskopi (microprobe WDS ).
Analisis unsur-unsur utama dan jejak dalam bahan geologi oleh x-ray fluorescence dimungkinkan oleh perilaku atom ketika mereka berinteraksi dengan radiasi. Ketika bahan-bahan yang gembira dengan energi tinggi, radiasi panjang gelombang pendek (misalnya, sinar-X), mereka bisa menjadi terionisasi. Jika energi radiasi yang cukup untuk mengeluarkan sebuah elektron dalam rapat diadakan, atom menjadi tidak stabil dan sebuah elektron terluar menggantikan elektron batin yang hilang. Ketika ini terjadi, energi dilepaskan karena energi yang mengikat penurunan orbital elektron dalam dibandingkan dengan yang luar. Radiasi yang dipancarkan adalah energi yang lebih rendah dari insiden utama sinar-X dan disebut radiasi neon. Karena energi dari foton yang dipancarkan adalah karakteristik transisi antara orbital elektron yang spesifik dalam elemen tertentu, neon dihasilkan sinar-X dapat digunakan untuk mendeteksi kelimpahan unsur-unsur yang hadir dalam sampel
Analisis unsur-unsur utama dan jejak dalam bahan geologi oleh x-ray fluorescence dimungkinkan oleh perilaku atom ketika mereka berinteraksi dengan radiasi. Ketika bahan-bahan yang gembira dengan energi tinggi, radiasi panjang gelombang pendek (misalnya, sinar-X), mereka bisa menjadi terionisasi. Jika energi radiasi yang cukup untuk mengeluarkan sebuah elektron dalam rapat diadakan, atom menjadi tidak stabil dan sebuah elektron terluar menggantikan elektron batin yang hilang. Ketika ini terjadi, energi dilepaskan karena energi yang mengikat penurunan orbital elektron dalam dibandingkan dengan yang luar. Radiasi yang dipancarkan adalah energi yang lebih rendah dari insiden utama sinar-X dan disebut radiasi neon. Karena energi dari foton yang dipancarkan adalah karakteristik transisi antara orbital elektron yang spesifik dalam elemen tertentu, neon dihasilkan sinar-X dapat digunakan untuk mendeteksi kelimpahan unsur-unsur yang hadir dalam sampel
Cara kerja XRF
Analisis unsur-unsur utama dan jejak dalam bahan geologi oleh XRF dimungkinkan oleh perilaku atom ketika mereka berinteraksi dengan X-radiasi. Sebuah spektrometer XRF bekerja karena jika sampel diterangi oleh sinar-X intens beam, yang dikenal sebagai balok insiden, sebagian energi yang tersebar, tetapi beberapa juga diserap dalam sampel dengan cara yang tergantung pada kimia nya. Insiden X-ray beam biasanya dihasilkan dari target Rh, meskipun W, Mo, Cr dan lain-lain juga dapat digunakan, tergantung pada aplikasi.
Saat ini sinar X-ray utama menerangi sampel, dikatakan bersemangat. Sampel bersemangat pada gilirannya memancarkan sinar-X sepanjang spektrum panjang gelombang karakteristik dari jenis atom hadir dalam sampel. Bagaimana ini terjadi? Atom-atom dalam sampel menyerap sinar-X energi pengion, elektron mendepak dari tingkat energi rendah (biasanya K dan L). Para elektron dikeluarkan diganti oleh elektron dari, energi luar orbit yang lebih tinggi. Ketika ini terjadi, energi dilepaskan karena energi yang mengikat penurunan orbital elektron dalam dibandingkan dengan yang luar. Hal ini melepaskan energi dalam bentuk emisi karakteristik sinar-X menunjukkan atom jenis ini. Jika sampel memiliki unsur-unsur yang hadir, seperti yang khas untuk kebanyakan mineral dan batuan, penggunaan Spektrometer dispersif Panjang gelombang seperti bahwa dalam EPMA memungkinkan pemisahan spektrum yang dipancarkan sinar-X yang kompleks ke dalam panjang gelombang karakteristik untuk masing-masing elemen ini. Berbagai jenis detektor (aliran gas proporsional dan kilau) digunakan untuk mengukur intensitas sinar yang dipancarkan. Penghitung aliran yang biasa digunakan untuk mengukur gelombang panjang (> 0,15 nm) sinar-X yang khas dari spektrum K dari unsur yang lebih ringan daripada Zn. Detektor sintilasi umumnya digunakan untuk menganalisis panjang gelombang lebih pendek dalam spektrum sinar-X (K spektrum elemen dari Nb ke I; L spektrum Th dan U). X-ray dari panjang gelombang menengah (K spektrum yang dihasilkan dari Zn untuk Zr dan L spektrum dari Ba dan unsur tanah jarang) umumnya diukur dengan menggunakan kedua detektor bersama-sama. Intensitas energi yang diukur oleh detektor sebanding dengan kelimpahan elemen dalam sampel. Nilai yang tepat dari proporsionalitas ini untuk setiap elemen diperoleh dengan perbandingan standar mineral atau batuan dengan komposisi yang diketahui dari analisis sebelumnya dengan teknik lain.
Aplikasi
X-Ray fluoresensi digunakan dalam berbagai aplikasi, termasuk
- penelitian di petrologi beku, sedimen, dan metamorf
- survei tanah
- pertambangan (misalnya, mengukur nilai dari bijih)
- produksi semen
- keramik dan kaca manufaktur
- metalurgi (misalnya, kontrol kualitas)
- lingkungan studi (misalnya, analisis partikel pada filter udara)
- minyak industri (misalnya, kandungan sulfur minyak mentah dan produk minyak bumi)
- bidang analisis dalam studi geologi dan lingkungan (menggunakan portabel, tangan memegang spektrometer XRF)
- massal kimia analisis elemen utama (Si, Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K, P) dalam batuan dan sedimen
- massal kimia analisis unsur jejak (dalam kelimpahan> 1 ppm; Ba, Ce, Co, Cr, Cu, Ga, La, Nb, Ni, Rb, Sc, Sr, Rh, U, V, Y, Zr, Zn) di batuan dan sedimen - batas deteksi untuk elemen biasanya pada urutan beberapa bagian per juta
- relatif besar sampel, biasanya> 1 gram
- bahan yang dapat dipersiapkan dalam bentuk bubuk dan efektif dihomogenisasi
- bahan yang komposisinya mirip, standar baik ditandai tersedia
- bahan yang mengandung kelimpahan tinggi unsur-unsur yang penyerapan dan efek fluoresensi yang cukup dipahami dengan baik
Fitton, G., 1997, X-Ray fluorescence spectrometry, in Gill, R. (ed.), Modern Analytical Geochemistry: An Introduction to Quantitative Chemical Analysis for Earth, Environmental and Material Scientists: Addison Wesley Longman, UK.
Potts, PJ, 1987, A Handbook of Silicate Rock Analysis: Chapman and Hall.
Rollinson, H., 1993, Using Geochemical Data: Evaluation, Presentation, Interpretation: John Wiley, NY.
Langganan:
Posting Komentar (Atom)
Labels
- Analisa instrumen AAS (1)
- Analisa instrumen GC (1)
- Analisa instrumen HPLC (1)
- Analisa instrumen ICP-MS (1)
- Analisa instrumen XRD (1)
- Analisa instrumen XRF (1)
- analisa kimia (1)
- Analisa kuantitatif ICP-MS (1)
- Analisa SEM (1)
- Analisi UV-Vis (1)
- analisis instrumen SAA (1)
- Analisis UV-Vis (1)
- Gas Chromatography (1)
- High Performance Liquid Chromatography (1)
- ICP-MS (1)
- instrumen kimia SEM (1)
- Instrumen UV-Vis (2)
- kalibrasi instrumen pH meter (1)
- kalibrasi UV-Vis (1)
- Kegunaan XRF (1)
- kesalahan analitik (1)
- polarimeter (1)
- polarisasi (1)
- Prinsip Kerja ICP-MS (1)
- Prinsip kerja XRF (1)
- Prinsip UV-Vis (1)
- Surface Area analyzer (1)
- X-Ray Defraction (1)
Blog Archive
-
2011
(15)
- Juli(3)
-
Juni(12)
- Analisa Instrumen XRF
- kalibrasi instrumen pH meter
- Analisis Instrumen NMR
- Instrumen kimia UV-Vis
- SUMBER KESALAHAN DALAM PENGUKURAN ANALITIK
- Kalibrasi Spektrofotometer UV-VIS
- Instrumen kimia SEM
- Instrumen kimia AAS
- Instrumen kimia Gas Chromatography (GC)
- Instrumen SAA (Surface Area Analyzer)
- Instrumen X-Ray Difraction (XRD)
- Instrumen FTIR dan membaca spektra FTIR
Popular Posts
-
Pada dasarnya Spektrofotometer FTIR ( Fourier Trasform Infra Red ) adalah sama dengan Spektrofotometer IR dispersi, yang membedakannya ada...
-
Prinsip dari spektrofotometri adalah terjadinya interaksi antara energi dan materi. Pada spektroskopi serapan atom terjadi penyerapan energi...
-
A. Penjelasan Alat Surface Area Analyzer (SAA) merupakan salah satu alat utama dalam karakterisasi material. Alat ini khususnya berfung...
-
Merupakan suatu instrumen yang digunakan untuk menganalisis senyawa-senyawa organik yang dapat diuapkan dalam GC diamana titik uapnya antara...
-
SEM mempunyai depth of field yang besar, yang dapat memfokus jumlah sampel yang lebih banyak pada satu waktu dan menghasilkan bayangan yang ...
-
X-ray fluorescence (XRF) spektrometer adalah suatu alat x-ray digunakan untuk rutin, yang relatif non-destruktif analisis kimia batuan, mi...
-
Faktor yang memepengaruhi presisi dan bias di atas dapat diakibatkan oleh kesalahan yang terjadi karena berbagai penyebab. Menurut Miller ...
-
Instrumen ICP-MS mengukur sebagian besarunsur-unsur dalam tabel periodik. Unsur-unsur ditampilkan dalam warna dapat dianalisis dengan ICP-M...
-
• Di akhir tahun 1895, Roentgen (Wilhelm Conrad Roentgen, Jerman, 1845-1923), seorang profesor fisika dan rektor Universitas Wuerzburg di J...
-
Spektrofotometer sesuai dengan namanya adalah alat yang terdiri dari spectrometer dan fotometer . Spektrometer menghasilkan sinar dari ...
6 komentar:
tolong pencerahannya yah...
apakah perbedaan yang mendasar alat2 ini:
1. Optical Emission Spectrometer (OES)
2. XRF Spectrometer
3. FTIR spectrometer
4. UV-VIS Spectrometer
Mohon penjelasan secara singkat yah,baik dalam segi pemakaiannya, bahan material ataupun yang lain:
btw, trimakasih ya,mohon direspon
maae ky tu ja kda kawa menjawab.. cari di mbah goggle
sdh cerah kan...tu tinggal d lihat link2nya...FTIR ad UV-Vis ada...yg lain jg ada
translatenya tidak bisa dipahami, tolong kalimatnya lebih diperbaiki lagi
mohon kata katanya di perbaiki lagi, jangan langsung copy - paste dari google translate
Kami menyediakan jasa penyewaan alat XRF, jika ada yang berminta bisa menghubungi kami melalui email: info@bss-lab.com
Posting Komentar